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面临高速链道测试重重挑拨轻松竣工PCIe 5自愿众道测试

  扫数外征高速链道,央求透过被测链道的众条分别通道施行发射机(Tx)和给与机(Rx)境遇带来了寻事。PCI Express端口的通道宽度平常为x1、x4、x8和x16,这给全主动Tx或Rx测试带来了寻事。通过正在测试通道中征求,咱们能够正在不太甚厘革DUT和测试摆设的情景下完毕众道测试。为使RF开合的电气影响到达最小,确保测试对范例央求或验证测试布置是切实的。本文形容了操纵ni-Circuits RF开合实行Gen5 (32 GT/s)众道测试,并就筑树、主动测试供应了少许举座指引,并就每每碰到的寻事提出了提倡。

  本文将要点先容x16测试央求的RF开合装备,这些开合型号将支柱最众18条通道(PCIe最高平常是x16),也将支柱较低的通道数。举荐用硬电缆正在分别开合组件之间确立固定相联,硬电缆能够向Mini-Circuits索取得回。本文前面给出了CEM测试图,但这些时间也合用于BASE测试。

  图1显示了ZTM2-8SP6T-40模块化开合矩阵,具有8个40GHz端接的SP6T呆板开合。这一装备将支柱最众18条通道。举荐操纵相位结婚的电缆,正在相邻的40 GHz继电器之间确立固定相联。正在没有为直通相联翻开继电器时,会有50W端接。

  图2显示了ZT-8SP6T-40 4U/5U开合矩阵,具有8个40GHz端接的SP6T呆板开合。这一装备将支柱最众18条通道。举荐操纵硬电缆,正在相邻的40 GHz继电器之间确立固定相联。开合组件正在这个矩阵中的方位,正在总共输入和输出之间维持相仿的电气途径长度。这对众道Rx测试加倍有吸引力,以使校准和测试之间的途径到途径区别降到最小。正在没有为直通相联翻开继电器时,会有50W端接。

  PCIe Gen5器件(体例主机或插件)将正在众道端口中再现出分别的发射机本能。每每要验证总共通道,以便扫数外征链道,识别硅本能、近端或远端串扰过高、布线缺陷等题目。正在测试筑树中采用RF开合 (图3)能够完毕众道Tx验证,并且不必工程师或时间职员延续厘革相联。32 GT/s Base Tx测试(参睹图10)的相联与此相仿。

  体例主机装备央求把一块相似性测试负载电道板(CLB)插入DUT的CEM相联器中,央求操纵电缆从每条通道相联RF开合。插件装备与此相仿,但DUT插入相似性测试根基电道板(CBB)中。一对电缆把端接的开合矩阵向回相联到50 GHz示波器。随便波形发作器(AFG)之类的仪器能够主动天生央求的100MHz突发信号,令DUT轮回通过分别发射机衡量操纵的各类数据速度和码型。

  开合筑树中实行的每个相联都出格紧张。因为有插损,因此不提倡串联两个以上的继电器实行32 GT/s Tx测试。提倡正在DUT和RF开合之间操纵1米2。92mm电缆,正在RF开合和示波器输入之间操纵0。5米2。92mm电缆。能够操纵示波器差分急迅边沿,配合TekExpress软件施行主动通道到通道时延校正。通道中总共电缆、继电器和PCB结婚范畴都应落正在正负信号途径+/- 1ps范畴内。

  维持RF开合的50W(100W差分)相联输入/输出将使通道内部的反射到达最小,但会引入部门插损。32 GT/s信号质料测试不央求实体可变ISI电道板(Gen4测试则央求),因而央求正在示波器上嵌入卓殊的通道和封装损耗。应施行测试夹具外征(5。0 PHY测试范例附录B中形容),征求RF开合。根基上会采选一个损耗较低的滤波器文献,完毕最坏情景插件损耗(正在测试体例主机时)或最坏情景体例损耗(正在测试插件时)。能够操纵泰克SignalCorrect办理计划磨练通道损耗,征求RF开合矩阵,而不是操纵腾贵的VNA。

  能够操纵基于散射参数(S参数)的反嵌时间,去掉RF开合插损的影响。反嵌导致庞杂性抬高,但改革了凿凿度,其它还务必思考噪声放大的影响。即使正在继电器到继电器相联之间操纵相位结婚的电缆,那么通道到通道间只存正在小的电气区别。即使认为这些区别会影响衡量,那么能够思考自界说通道S参数文献。能够操纵SignalCorrect或矢量汇集认识仪(VNA)捉拿S参数文献,其它也能够由泰克现场项目组供应标称S参数文献。

  PCIe Gen5器件(体例或插件)给与机操纵精美校准的压力眼图信号实行测试。这个“最坏情景”信号是通过众个校准程序正在参考平面(没有通道)确立的,且操纵的“最坏情景”通道务必正在34 dB ~37 dB @ 16 GHz。本节将磋商怎么正在Rx测试时正在这个信号校准中采用端接的RF开合,然后通过众道链道测试DUT。

  正在TP3测试点校准幅度、Tx平衡、随机震颤和正弦弧线震颤央求直接相联Anritsu MP1900A BERT PPG和泰克50 GHz示波器。提倡操纵1米2。92mm电缆(如泰克产物号:PMCABLE1M)竣事这延续接。图5显示了TP3校准相联,这一步中没有征求RF开合。因为RF开合引入了部门电通道区别,因而提倡正在TP3参考平眼前不要征求这一影响。

  正在TP2P操纵差模滋扰(DMI)、共模滋扰(CMI)和最终的压力眼图校准串扰项。这个测试点来自TP2之后(BERT和示波器之间的物理通道),但TP2P征求封装嵌入及Rx平衡和时钟还原的影响。图6正在TP2校准中增添了RF开合,此中开合是正在测试夹具(根基或CEM)后面引入的。正在这个点上,工程师务必确定是须要单次TP2校准(提倡用于ZT-8SP6T-40 4U/5U),仍旧须要两次以上的TP2校准(最好思考ZTM2-8SP6T-40分别的电气途径长度)。不提倡级联两个以上的继电器实行32 GT/s压力眼图校准。

  提倡正在BERT和RF开合之间操纵1米2。92mm电缆,正在RF开合和示波器之间操纵短一点的0。5米2。92mm电缆。能够操纵示波器差分急迅边沿,配合TekExpress软件施行主动通道到通道时延校正。通道中总共电缆、继电器和PCB结婚范畴都应落正在正负信号途径+/- 1ps范畴内。

  维持RF开合的50W(100W差分)相联输入/输出将使通道内部的反射到达最小,但会引入部门插损。32 GT/s信号质料测试不央求实体可变ISI电道板(Gen4测试则央求),因而央求正在示波器上嵌入卓殊的通道和封装损耗。应施行测试夹具外征,征求RF开合。根基上会采选一个损耗较低的滤波器文献,完毕最坏情景插件损耗(正在测试体例主机时)或最坏情景体例损耗(正在测试插件时)。能够操纵泰克SignalCorrect办理计划磨练通道损耗,征求RF开合矩阵,而不是操纵腾贵的VNA。

  能够操纵基于散射参数(S参数)的反嵌时间,去掉RF开合插损的影响。反嵌导致庞杂性抬高,但改革了凿凿度,其它还务必思考噪声放大的影响。即使正在继电器到继电器相联之间操纵相位结婚的电缆,那么通道到通道间只存正在小的电气区别。即使认为这些区别会影响衡量,面临高速链道测试重重挑拨轻松竣工PCIe 5自愿众道测试那么能够思考自界说通道S参数文献。能够操纵SignalCorrect或矢量汇集认识仪(VNA)捉拿S参数文献,其它也能够由泰克现场项目组供应标称S参数文献。

  正在众条通道中操纵校准后的32 GT/s压力眼图信号实行给与机测试央求两个RF开合矩阵,如图7所示。正在链道是x8或更低的道数时,能够思考单个RF开合矩阵。来自Anritsu MP1900A PPG的信号务必分发到总共PCIe通道中。器件将处于环回形式,因而数字化信号将通过Tx引脚传回,开合回至BERT误码检测器的单个输入。很众支柱32 GT/s的体例会体现一条到误码检测器的高损耗返回通道,央求外部再驱动器平衡信号,以便被测试摆设检测到。

  提倡正在BERT和RF开合之间操纵1米2。92mm电缆,正在RF开合和示波器之间操纵短一点的0。5米2。92mm电缆。应正在DUT Tx和误码检测器之间思考操纵最短的2。92mm电缆。

  TekExpress TX主动化软件供应了内置局限功用,正在主动TX测试进程中局限Mini-Circuits开合矩阵。用户开荒己方的主动化软件,正在TX或RX测试进程中局限RF开合。怎么相联:能够通过两种方法与Mini-Circuits开合通讯:USB操纵dll (动态链接顺序库);以太网HTTP苦求。

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